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HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
,下标尺,日期,时间(*) 选购件 专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能
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日立200kV球差校正透射电镜HF5000
,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面
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冷场发射球差校正透射电镜
传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜
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日立分析 差示扫描量热仪 DSC
MUSE测试分析软件,可控制转化速率热分析(CRTA)软件,zl技术的“高速公路”(HighWay)软件 差示扫描量热仪(DSC)是热分析中最基本最常用的热分析仪器。 差示扫描量热仪(DSC)是
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聚焦离子束(FIB)微型采样系统用于STEM分析
聚焦离子束(FIB)的方向,把微样品切割或加工成任意形状。系统配置实例聚焦离子束-扫描透射电子显微镜系统新开发的半导体装置评估系统由FB2200聚焦离子束(FIB)系统和HD-2700 200 kV
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H-7650 日立透射电子显微镜
电子束时可以得到zei佳对比度的图像 1.使用日立独有的双狭缝物镜,可以得到独有的低倍大视野、高对比度成像的特点 2.标配有高灵敏度CCD相机,具有低剂量电子束成像的功能
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扫描探针式TEM电学系统
规格参数:透射电子显微镜指标JEOL 电镜兼容或者FEI电镜兼容保证透射电镜原有的分辨率(非球差校正);扫描探针操纵指标粗调范围:XY方向2.5mm,Z方向1.5mm。细调范围:XY方向
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HT7700日立高新透射电子显微镜
进行处理,可以获得误差更小、更精确的三维重构形貌图。 扫描透射观察设备(STEM)(选配) 明场(BF) 和暗场(DF) 检测器可以安装在HT7700上对样品进行STEM 分析。在
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